Interférométrie à décalage multilatéral

La technologie SID4 utilise l'interférométrie à décalage afin d'analyser les déformations de la surface d'onde des faisceaux lasers. Un réseau de diffraction à deux dimensions réplique le faisceau à analyser en 4 sous-faisceaux parfaitement identiques au premier qui se propagent dans des directions légèrement inclinées par rapport à l'axe optique.

Après quelques millimètres de propagation, les faisceaux se sont légèrement séparés. Comme ils ne se propagent pas suivant les même directions, on voit apparaître des franges d'interférence dont le pas est déterminé par l'angle entre les directions de propagation. Si le faisceau laser a une surface d'onde parfaitement plane, l'image enregistrée par une caméra est un réseau de points parfait. Si le faisceau contient des aberrations, ce maillage régulier est déformé. L'étude de ces déformations par des méthodes d'analyse spectrale permet de retrouver les gradients de la phase spatiale. Après leur intégration, on obtient une carte de phase avec un point de mesure par frange d'interférence.

Cette mesure est auto-référencée: le faisceau sert de référence à lui-même. Cela rend inutile l'utilisation d'un faisceau de référence et rend la mesure extrêmement insensible aux vibrations.