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Points forts du SID4 - Haute résolution transverse (160x120)
- Achromaticité
- Grande stabilité de la mesure
- Insensibilité aux vibrations
- Facilité de mise en ouvre, câble Firewire IEEE 1394
- Compacité : ordinateur portable (inclus)
Les avantages de la technologie SID4 
- Le SID4 permet d'obtenir une carte de phase et d'intensité échantillonée sur 160X120 points de mesure et offre à l'utilisateur une analyse fine de son faisceau.
De la haute résolution découle :
- Une grande reproductibilité de la mesure,
- Une évaluation précise et rigoureuse des aberrations optiques (Zernike-Legendre).
- Notre technologie d'interférométrie à décalage multilatéral assure une grande précision.
- Le masque de Hartmann modifié est achromatique, les mesures en lumière cohérente et incohérente sont possibles (laser, LED, source halogène ...).
- Le SID4 ne nécessite pas de procédure d'alignement élaborée. En effet, la mesure du tilt est décorrélée de la mesure globale du front d'onde.
- Il est insensible aux variations d'énergie lumineuse. La mesure est indépendante des fluctuations d'intensité de la source analysée sur toute la gamme de sensiblité de la caméra.
- Ergonomique, le SID4 offre une grande facilité de mise en œuvre et une prise en main rapide.
- Sa conception ne nécessite qu'une calibration en usine sans réétalonnage ultérieur.
- Il est auto référencé et donc insensible aux vibrations.
- Le SID4 inclut un logiciel intuitif qui emploie une méthode d'analyse rapide et robuste.
Spécifications détaillées du SID4 | Ouverture | 3.6 x 4.8 mm2 |
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| Résolution transverse | 29.6 µm |
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| Echantillonnage | 160 x 120 (> 19 000 points) |
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| Gamme de longueurs d’onde | De 350 nm à 1100 nm |
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| Précision (absolue/relative) | 10 nm RMS / 3 nm RMS |
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| Répétabilité | 3 nm RMS |
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| Dynamique | > 100 µm |
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| Fréquence d’acquisition | 60 fps |
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| Fréquence d’analyse | > 10 fps (pleine résolution) |
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| Dimensions (l x H x L) | 49 x 35 x 110 mm |
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| Masse | 250 g |
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Fiche SID4