SID4 UV-HR : Analyseur de front d'onde pour les longueurs d'onde UV

SID4 UV-HR

PHASICS étend sa gamme d'analyseurs de front d'onde SID4 aux longueurs d'onde UV. Grâce au SID4 UV-HR, tous les avantages de la technologie PHASICS (interférométrie à décalage multilatéral) sont accessibles de 190nm à 400nm.

Pour la métrologie optique, le SID4 UV-HR permet de diagnostiquer avec précision des composants optiques (utilisés en lithographie, semi-conducteurs, …) ou caractériser des surfaces (inspection de wafers…).

Avec une telle sensibilité, le SID4 UV-HR est la solution UV au meilleur rapport qualité/prix pour la caractérisation haute résolution.

Les points forts du SID4 UV-HR

très haute résolution (250 x 250)
large pupille d'analyse (8,0mm sur 8,0mm)
couverture du spectre UV
haute sensibilité (0,5nm)
rapport signal sur bruit optimal
adapté à la caractérisation optique

Spécifications détaillées du SID4 UV-HR

Ouverture	8,0 x 8,0 mm²
Résolution transverse	32 µm
Echantillonnage	250 x 250
Gamme de longueurs d'onde	190 - 400 nm
Précision (absolue)	10 nm
Sensibilité	0,5 nm
Dynamique	>200µm
Mesure de courbure de sensibilité	<5. 10-4 m-1
Fréquence d'analyse	1 fps
Fréquence d'acquisition	30 fps
Dimensions (lxHxL)	95 x 105 x 84mm
Masse	900g

Fiche SID4 UV-HR

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Applications: IOL, intraoculaire lentille, ophtalmologie, IOL torique, IOL asphérique, IOL multifocal, morphologie des cellules, imagerie de cellules, imagerie de phase, laser, métrologie laser, caractérisation de faisceau laser, optique adaptative, controle de miroir, caractérisation de surface, inspection de surface, asphère, surface globale, surface entière, caractérisation asphérique, surface asphérique, optique de haute précision, wafer level optics, micro optiques