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SID4 NIR : Analyseur de front d'onde pour l'inspection des surfaces

SID4 NIR vue de face

PHASICS étend sa gamme d'analyseurs de front d'onde aux longueurs d'onde IR de 1.5 µm à 1.6 µm avec le SID4 NIR.

Pour la métrologie de faisceau laser, le SID4 NIR permet une caractérisation complète du faisceau (carte de phase, aberrations, M², profils d'intensité, paramètres du faisceau ...).

Pour la métrologie optique, le SID4 NIR est l'outil parfait pour caractériser les objectifs IR ou les lentilles IR, il permet de mesurer les aberrations, la PSF, la FTM, la longueur focale et d'analyser la qualité de la surface.

Le SID4 NIR est compact, facile d'utilisation et très simple d'intégration.

Les points forts du SID4 NIR
  • Haute résolution (160 x 120)
  • Modules d'interprétation de cartes de phase
  • Caractérisation des profils d'intensité
  • Mesure absolue
  • Mesure rapide
  • Insensible aux vibrations
Spécifications détaillées du SID4 NIR

Ouverture 3.6 x 4.8 mm²
Résolution spatiale29.6 µm
Echantillonage 160 x 120
Gamme de longueurs d'onde 1.5 - 1.6 µm
Précision> 15 nm RMS
Sensibilité < 11 nm RMS
Dynamique > 100 µm
Fréquence d'analyse < 10 fps
Fréquence d'acquisition 60 fps
Dimensions (l x H x L) 44x33x57.5 mm
Masse 250 g

Fiche SID4 NIR