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SID4 HR L'analyseur de front d'onde SID4 Haute Résolution est particulièrement adapté aux besoins de métrologie optique. Il associe la facilité de mise en ouvre du SID4 à la très haute résolution. Dédié à la métrologie des composants optiques (caractérisation de lentilles, objectifs, asphériques, microlentille...), il permet d'accéder à une carte de phase de 300x400 points de mesure et bénéficie d'une grande précision. Points forts du SID4 HR - Très haute résolution transverse (300x400)
- Grande reproductibilité des mesures
- Large pupille d'analyse (8,9mm sur 11mm)
- Dynamique de mesure élevée
- Mesure instantanée
- Rapport Signal sur Bruit optimal
- Insensible aux vibrations
Les avantages de la Haute Résolution 
- La haute résolution du SID4-HR (300x400 points de mesure) s'adapte précisement aux besoins de la métrologie optique
- L'utilisation d'une caméra très haute performance donne accés à des mesures avec un Rapport Signal sur Bruit élevé
- La mesure instantanée permet d'obtenir une information (120000 points) immédiate sur la totalité de la pièce
- Un temps d'exposition très court assure l'analyse de pièces en mouvement
- La compacité du SID4-HR apporte une facilité de mise en oeuvre sur les procédés de fabrication déjà existant
Spécifications détaillées du SID4 HR | Ouverture | 8.9 x 11.8 mm2 |
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| Résolution transverse | 29.6 µm |
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| Echantillonnage | 300 x 400 ( >120 000 points ) |
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| Gamme de longueurs d’onde | De 350 nm à 1100 nm |
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| Précision (absolue/relative) | 10 nm RMS/2 nm RMS |
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| Répétabilité | 2 nm RMS |
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| Dynamique | > 500 µm |
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| Fréquence d’acquisition | 10 fps |
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| Fréquence d’analyse | > 3 Hz (pleine résolution) |
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| Dimensions (l x H x L) | 76 x 63 x 132 mm |
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| Masse | 620 g |
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Fiche SID4 HR