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Logiciel SID4 pour la métrologie optique

Interface utilisateur du logiciel SID4

Les analyseurs de front d'onde de la gamme SID4 sont associés à un logiciel d'analyse du champ électromagnétique complet. Il permet d'accèder à une carte de phase haute résolution mais aussi de connaitre au même moment le profil d'intensité et la forme du faisceau.

Description du logiciel
  • Modules d'interprétation de la phase
    - Tilt
    - Divergence
    - Polynôme de Zernike
    - Polynôme de Legendre
  • Ergonomie
    - Logiciel intuitif
    - Interface multi-utilisateurs
    - justement automatique du masque
  • Analyse de Faisceau
    - Carte de Phase et Intensité
    - Calcul du M²
    - Rapport de Strehl
    - Analyse en champ lointain
  • Beam View (option)
    - Caractérisation complète du faisceau
    - Profils d'intensité
    - Ajustement gaussien
Les avantages du logiciel
  • La grande résolution du SID4 offre une exploitation fine des résultats
  • Le logiciel peut analyser des pupilles circulaires et rectangulaires et s'adapte automatiquement à la bonne base de projection : Zernike ou Legendre.
  • La technologie du SID4 lui permet une grande facilité d'alignement : dans notre technologie, l'analyse par Transformée de Fourier réduit considérablement les problèmes de centrage.
  • Les paramètres de mesure des différents utilisateurs sont associés à un profil spécifique permettant un accés multi-utilisateurs au logiciel.
  • Une bibliothèque de modules de programmation (Software Development Kit) en Labview et C++ donne la possibilité d'intégrer la mesure de phase et différents modules d'interprétations dans vos programmes pour une utilisation personnalisée.
Beamview

Avec le Beam View, le SID4 permet simultanément de connaître le front d'onde et le profil d'intensité d'un faisceau laser.

Interface utilisateur Beam View

Ce dispositif permet la caractérisation d'un profil d'intensité à partir d'un interférogramme.
On a accès notamment aux informations suivantes:

  • Position du maximum d'intensité (mm,µm)
  • Position du barycentre de l'intensité (mm,µm)
  • Diamètres du faisceau à 1/e², FWHM
  • Ellipticité, angle
  • Ajustement gaussien sur des coupes du faisceau (verticale, horizontale, grand axe, petit axe d'une ellipse)
  • Enregistrement des paramètres et de l'image
  • Traitement du bruit de fond