Kaleo R : Système complet de mesure de surface

Kaleo R réflexion

Le système Kaleo R (R pour réflexion) permet de mesurer les différents paramètres de la qualité de surface des composants optiques :

mesure de rayon de courbure
mesure de l'état de surface (RMS, PtV, WFE)

Le logiciel associé permet de comparer la surface mesurée à une surface théorique (sphérique ou asphérique).

Le système Kaleo R intègre une source, un porte-échantillon et un analyseur de front d'onde.

Les spécifications standards de Kaleo R

D'autres gammes de diamètres de lentille et de rayons de courbure sont disponibles. N'hésitez pas à This e-mail address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it .

Diamètres - gamme	jusqu'à 8 mm (cv) et jusqu'à 50 mm (cc)
Rayon de courbure - gamme	jusqu'à 30 mm (cv et cc) et jusqu'à 500 mm (cc)
Rayon de courbure - précision	< 5 µm
Etat de surface - précision	10 nm
Etat de surface - résolution	2 nm
Etat de surface - échantillonage	jusqu'à 300x300 (90,000pts)

Fiche Kaleo R

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Controle qualité, assurance de qualité, analyseur de front d'onde, analyse de front d'onde, controle de phase, mesure de phase, Shack Hartmann, masque Hartmann modifié, Interférométrie à décalage multilatéral, métrologie optique, mesure d'optiques, metrologie, haute résolution, précision.
Applications: IOL, intraoculaire lentille, ophtalmologie, IOL torique, IOL asphérique, IOL multifocal, morphologie des cellules, imagerie de cellules, imagerie de phase, laser, métrologie laser, caractérisation de faisceau laser, optique adaptative, controle de miroir, caractérisation de surface, inspection de surface, asphère, surface globale, surface entière, caractérisation asphérique, surface asphérique, optique de haute précision, wafer level optics, micro optiques