Métrologie optique

• Défense et sécurité
  Pour les applications Défense et sécurité, SID4 DWIR permet la caractérisation d'objectifs infrarouge de 3µm à 14µm aussi bien pendant l'assemblage des sous-ensembles qu'au moment du contrôle final. Il permet de mesurer sans optique de reprise des objectifs ouverts jusqu'à f/1.
• Contrôle de qualité optique
  Aujourd'hui, dans un besoin toujours croissant de contrôle de la qualité de leurs composants optiques et de la précision de leurs mesures, les industriels considèrent la mesure de phase haute résolution comme incontournable. C'est dans ce contexte que Phasics a développé de nouveaux outils de diagnostic pour les industriels dans différents domaines d'application. Phasics est la seule société à pouvoir offrir aujourd'hui des systèmes compacts haute résolution, la gamme Kaleo, pour la métrologie optique de l'UV à l'infrarouge lointain (3µm à 14µm). La facilité de mise en oeuvre, la rapidité de mesure et le faible coût de nos solutions répondent parfaitement aux industriels soucieux d'un contrôle exhaustif, fiable et rigoureux adapté à leur environnement.
• Caractérisation de surface : le système manuel Kaleo R

• Mesure d'aberrations en direct d'objectifs jusqu'à des ouvertures numériques de 0,75 (sans aucune optique de reprise),
• Mesure de FTM, d'aberrations, de focale, de distorsion...

• Mesure de forme (diamètre , équation de la surface...),
• Mesure d'aberration, focale sur des optiques très ouvertes.

Exemple : Verre de lunette analysé en phase avec le SID4-HR.

Pour caractériser un composant optique, une méthode classique consiste à utiliser un interféromètre, généralement de type Fizeau. Son utilisation nécessite néanmoins une mise en oeuvre longue et délicate et des composants optiques adaptés. Une alternative simple et peu coûteuse pour la caractérisation haute résolution de composants optiques est l'utilisation des analyseurs de front d'onde SID4, basés sur une nouvelle technologie d'analyse de front d'onde: l'interférométrie à décalage quadrilatéral.
Les schémas ci-dessous permettent d'illustrer les avantages de l'utilisation d'un analyseur de front d'onde SID4 par rapport à un interféromètre classique pour caractériser la qualité d'une optique:

• Analyse directe de l'optique à caractériser
  La technologie d'analyse de front d'onde haute résolution développée par PHASICS permet la mesure d'aberrations de lentilles sans l'utilisation de calibre de référence ou ni même de double passage dans l'optique. Un faisceau de lumière calibré passe à travers la lentille à tester. L'analyseur mesure ensuite directement la déviation à la sphère du front d'onde transmis. Même en travaillant avec des faisceaux très divergents (jusqu'à des ouvertures numériques de 0,75), aucune lentille de reprise entre la lentille à tester et l'analyseur n'est nécessaire.
• Pas de calibre de référence
  La caractérisation d'une optique avec l'analyseur de front d'onde SID4 ne nécessite aucun calibre de référence. La mesure se fait directement sur le faisceau transmis par l'optique. La référence est dans l'analyseur et ne nécessite pas de lame de référence. De plus, il n'y a pas de limitation du diamètre des lentilles à tester.
• Facilité d'alignement
  L'optique à tester est directement placée entre la source et le SID4 préalablement aligné. Lorsque l'on teste différentes lentilles à la suite, le gain de temps est important car l'alignement est facilité à chaque changement d'optique.
• Compacité
  La taille du SID4 permet de réduire la place nécessaire pour réaliser une caractérisation d'optiques.
• Flexibilité du montage de caractérisation
  L'analyseur de front d'onde SID4 peut être utilisé dans différentes conditions de mesure suivant les paramètres de la source: diamètre du faisceau, longueur d'onde, source polychromatique avec filtres, source de faible cohérence temporelle…
• Insensibilité aux vibrations
  La mesure avec le SID4 ne nécessite pas de bras de référence. Elle est auto référencée, ce qui la rend donc insensible aux vibrations.
• Grande dynamique de mesure
  L'analyseur SID4 reconstruit la phase à partir de ses dérivées. Cela autorise l'analyse d'aberrations largement supérieure à la longueur d'onde d'éclairage (> 100λ). De plus, l'utilisation en simple passage réduit les erreurs introduites par le deuxième passage dans la lentille à tester du faisceau déjà aberrant. L'acuité de la mesure et des aberrations en est grandement améliorée.

Analyseur de front d'onde SID4 - Mesure en infini/foyer

Dans ce montage, un faisceau collimaté passe à travers la lentille à tester. L'analyseur mesure ensuite directement la déviation à la sphère du front d'onde transmis. On obtient ainsi en une seule mesure les aberrations de l'optique, la FTM et la PSF simultanément. Même en travaillant avec des faisceaux très divergents (jusqu'à des ouvertures numériques de 0,75), aucune lentille de reprise entre la lentille à tester et l'analyseur n'est nécessaire. Il est également possible de caractériser la lentille en créant un point source pour faire une mesure plan/plan.

Interféromètre de Fizeau